智慧源32.768KHz晶振测试仪GDS-327

基本介绍

智慧源GDS-327是一款专为32.768KHz晶振设计的高精度测试仪，旨在满足电子工程师和实验室对晶振元件进行全面、精确测试的需求。本产品集成了先进的测试技术和用户友好的操作界面，能够快速准确地测量晶振的关键参数，确保您的电子设备在时钟信号方面达到*佳性能。GDS-327不仅适用于研发阶段的原型验证，也适用于生产线上的质量控制，是电子制造业不可或缺的测试工具。

技术参数

• 测试频率：32.768KHz
• 主要测试参数：
  • 串联谐振频率：精确测量晶振在串联条件下的谐振点。
  • 负载谐振频率：评估晶振在标准负载下的工作频率。
  • 等效电阻：反映晶振在谐振时的内部损耗。
  • 负载电阻：设定测试时的标准负载值。
  • 负载电容：测试晶振在特定电容负载下的性能。
  • 动态电容、动态电感：分析晶振的动态特性。
  • 品质因数（Q值）：衡量晶振能量存储与损耗的比例。
  • 频率牵引力：评估外界条件变化对晶振频率的影响。

性能特点

1. 高精度测量：采用高精度测量技术，确保测试结果误差小，满足高精度测试需求。
2. 快速响应：测试速度快，大大缩短测试周期，提高工作效率。
3. 多功能集成：一站式测试解决方案，覆盖所有关键参数，无需更换设备或附件。
4. 直观界面：大屏幕彩色显示，图形化操作界面，易于操作和理解测试结果。
5. 数据记录与导出：支持测试结果自动保存和导出功能，便于数据管理和分析。
6. 稳定性强：采用优质材料和先进工艺，确保仪器长期稳定运行。

使用说明

1. 开机预热：首次使用或长时间未使用后，建议开机预热30分钟以达到*佳测试状态。
2. 连接晶振：使用专用测试夹或插座将待测晶振连接到测试仪上，确保连接牢固。
3. 设置参数：通过触摸屏菜单选择测试项目和设置相关参数，如负载电阻、负载电容等。
4. 启动测试：点击“开始测试”按钮，仪器将自动进行测试并显示结果。
5. 查看与保存数据：测试完成后，可在屏幕上查看详细测试结果，并选择保存或导出至外部存储设备。

订购货期

智慧源GDS-327 32.768KHz晶振测试仪现货供应，常规订单在确认付款后的3个工作日内发货。对于大量采购或定制需求，我们将根据您的具体要求提供详细的交货时间表。我们承诺提供全面的售前咨询和售后服务，确保您的采购和使用过程顺畅无忧。