基本介绍
智慧源晶振测试仪GDS-80是一款高精度、高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。其测试频率范围为10KHz-100MHz，能够对晶振的多种关键参数进行全面、准确的测试，包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数和频率牵引力等。广泛应用于晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业等生产和科研领域。
技术参数
- 测试频率范围：10KHz-100MHz
- 负载电容：4-20pF任意设定
- 负载谐振电阻：1Ω-300Ω，1K-300K
- PPm范围测量：±300ppm
- PPm测量精度：<5ppm
- 时基频率：16.384M
- 晶振稳定性：2×10⁻⁸/日
- 体积：80×235×305（mm）
- 保修期：三年。
性能特点
- 高精度测量：GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量，测量精度高，速度快。频率精度达±0.01%，电阻测量精度优于±0.5%，确保数据可靠性。
- 多参数同步测量：能够同步测量谐振频率（串联谐振频率Fs、负载谐振频率Fl）、阻抗特性（等效电阻R1、负载电阻RL、负载电容CL）、动态性能（动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q值、频率牵引力TS）等九大参数。
- 智能抗干扰设计：采用多级数字滤波技术，复杂工况下测试稳定性提升80%；全金属屏蔽机身，通过EMC Class B认证，无惧电磁干扰。
- 便捷操作与高效检测：7英寸触控屏+图形化界面，支持数据存储、导出及历史记录对比功能。可选配PC端软件，实现大数据分析与SPC品质管控。多线程并行处理架构，单次测试仅需0.25秒，支持500组数据存储，一键导出PDF/Excel报告。
- 全场景适配：宽温工作范围（-30℃~70℃），满足工业车间及实验室环境。可选配自动探针台，无缝对接SMD晶振产线检测。
使用说明
- 开机准备：将晶振测试仪GDS-80连接电源，开机后等待设备自检完成，确保设备处于正常工作状态。
- 连接晶振：根据被测晶振的类型和测试需求，将晶振正确连接到仪器的测试端口。仪器可适配不同封装的晶振，包括SMD封装（如3225/5032等）、插件晶振（如HC-49/U/S）等。
- 参数设置：在仪器的操作界面上，根据具体的测试要求设置相应的参数，如测试频率、负载电容等。仪器具备智能分析系统，可自动识别并适应不同的测量需求。
- 开始测量：确认各项设置无误后，点击“开始测量”按钮，仪器将自动进行测量，并在屏幕上显示测量结果。测量过程中，仪器会实时采集数据，并进行分析处理。
- 数据读取与保存：测量完成后，用户可以在仪器的屏幕上查看测量结果，包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数、频率牵引力等参数。通过USB或RS-232接口，可将测量数据上传至电脑进行数据管理和分析。
订购说明
- 价格：晶振测试仪GDS-80的参考价为17800元/台，具体价格以合同协议为准。
- 订货量：≥1台。
- 供货期：一般为7-15个工作日，具体以供应商确认为准。
